VLB Suche

Suche in den Daten des Verzeichnisses lieferbarer Bücher (VLB)

Drucken

Suchergebnisse

Produktdetails

Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

Autor
Chong Leong, Gan, Chen-Yu, Huang

Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

Verlag
Springer International Publishing
ISBN/EAN
978-3-031-26707-9
Preis
213,99 EUR
Status
lieferbar