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- Autor
- Herausgegeben von Youngsoo Shin, Herausgegeben von Chi Ying Tsui, Herausgegeben von Jae-Joon Kim, Herausgegeben von Kiyoung Choi, Herausgegeben von Ricardo Reis
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power
- Untertitel
- 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
- Verlag
- Springer International Publishing
- ISBN/EAN
- 978-3-319-46096-3
- Preis
- 53,49 EUR
- Status
- lieferbar
