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Test digitaler Schaltkreise

Autor
Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian

Test digitaler Schaltkreise

Beschreibung

Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens – und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.

Verlag
De Gruyter Oldenbourg
ISBN/EAN
978-3-486-99073-7
Preis
79,95 EUR
Status
lieferbar