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In-situ Electron Microscopy

Autor
Herausgegeben von Gerhard Dehm, Herausgegeben von James M. Howe, Herausgegeben von Josef Zweck

In-situ Electron Microscopy

Untertitel
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Beschreibung

Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomaßstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; außerdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.

Verlag
Wiley-VCH
ISBN/EAN
978-3-527-65218-1
Preis
151,99 EUR
Status
lieferbar