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Produktdetails
- Autor
- Gerd Kaupp
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
- Untertitel
- Application to Rough and Natural Surfaces
- Verlag
- Springer-Verlag GmbH
- ISBN/EAN
- 978-3-540-28405-5
- Preis
- 213,99 EUR
- Status
- lieferbar
